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電阻耐久性測(cè)試儀 電阻性能測(cè)試儀 薄膜電阻器70℃耐久性測(cè)試儀（帶老化箱）1參考國(guó)標(biāo)GB/T 5729的4.25進(jìn)行，初測(cè)電阻值，置于70±2℃環(huán)境中，施加額定直流電壓1.5h通、0.5h斷，持續(xù)進(jìn)行1000h；

智能門(mén)鎖耐久性測(cè)試裝置設(shè)備控制軟件上，采用觸摸屏顯示器輸入控制，以PLC進(jìn)行編程，工況顯示清楚了然，可設(shè)置調(diào)節(jié)每個(gè)工況的相應(yīng)參數(shù)，如測(cè)試速度，測(cè)試時(shí)間，延時(shí)時(shí)間等等。

智能電子鎖壽命耐久性測(cè)試裝置用于對(duì)電子防盜鎖等產(chǎn)品進(jìn)行 APP 臨時(shí)密匙開(kāi)門(mén)、指 紋開(kāi)門(mén)、鑰匙開(kāi)門(mén)、藍(lán)牙開(kāi)門(mén)、密碼開(kāi)門(mén)，磁卡開(kāi)門(mén)等模擬用途行為測(cè)試。

機(jī)械鎖耐久性測(cè)試裝置用于對(duì)機(jī)械鎖等產(chǎn)品把手上抬和下壓、開(kāi)關(guān)和關(guān)門(mén)等模擬用途行為測(cè)試，本系統(tǒng)滿足多種機(jī)械鎖進(jìn)行壽命測(cè)試（由用戶提供樣品），采用PLC+觸摸屏控制系統(tǒng)，自動(dòng)化程度高。